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icp光譜分析儀如何消除因光譜及樣品物理性質帶來的干擾

發布時間:2021-11-16      點擊次數:343
   icp光譜分析儀主要用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數的金屬和磷、硅、硫等少量的非金屬物質,數量高達72種之多,是當前光譜分析中迅速靈敏的一種儀器。采用等離子光學接口完成消除水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術和多視角等離子體定位等新技術,有高靈敏度、高精度以及波長范圍寬等特性。
  icp光譜分析儀分析過程中有時會受到一些不利因素干擾,導致分析數值不準確,就好比說光譜或樣品物理性質干擾,因此就需要用不同的方法去消除此類干擾,這對于新手來說還是存在一定難度,但并不是不能解決,只要方法找對了,其實也不難!

  先來說說光譜干擾:是常見的干擾,跟試樣類型有關,在軟件中可以看出來有沒有光譜干擾。
  消除方法參考:雙邊校正背景方式,通過調節兩個背景點的位置和像素點來消除干擾;若干擾很嚴重可用MSF模型。IEC用的很少。

  那么對于物理干擾怎么理解呢:因為樣品首先進行霧化,粘度不一樣,霧化效率不一樣,形成氣溶膠效率不一樣,到達中心管的速度不一樣,從而引起強度值的變化。1%的硝酸和5%的硫酸通過相同的條件進行霧化,出來的液滴大小不一樣,這是由于樣品物理性質的干擾對測定造成的影響。
  消除方法參考:首先保證載氣流量的穩定,采用復配方式測定,配標液可用到異辛烷;基體大致相同;基體校正系數法,用的較少;標準加入法;內標法,加內標元素進去,讓它時時監控霧化效率和傳出效率,如果有改變,可按照系數計算。

ICP光譜儀

 

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